金融界2024年3月5日消息，据国家知识产权局公告，上海艾为电子技术股份有限公司申请一项名为“一种FRA测试装置及方法“，公开号CN117647691A，申请日期为2023年12月。
专利摘要显示，本申请提供一种FRA测试装置，包括：微控制单元，被配置为根据多组参数，确定与每组参数相对应的数字正弦信号，并输出每组参数；马达控制单元，被配置为根据微控制单元所输出的每组参数，确定相对应的数字正弦信号并将其转换成对应的模拟正弦信号，读取模拟霍尔信号并将其转换成对应的数字正弦信号，其中，模拟霍尔信号被配置为马达响应于马达控制单元所确定的模拟正弦信号的信号，微控制单元被配置为，读取马达控制单元所读取的数字霍尔信号，并根据微控制单元所确定的数字正弦信号和所读取的数字霍尔信号，确定每组参数下马达的增益值和相位值。该FRA测试装置能够在实现便携性的同时确保测试的准确度，本申请还提供一种FRA测试方法。
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